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| 装备编号 | WHRSM2012XG007 |
| 购买时间 | 2011年 |
| 负责人 | 王静 |
| 联系电话 | 027-87199209 |
| 简要功能 | 一、设备简介 本实验测试分析系统是利用X射线荧光进行元素分析，入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。 二、技术参数 1、技术规格：高性能微型X射线管，高性能si pin探测器。4096多道分析器，固定角度高亮彩色触摸屏，可存储10000个数据和图谱。 2、测到元素 %比模式：Ba、Sb、Sn、Cd、Pd、Ag、Mo、Nb、Zr、Sr、Se、Rb、Bi、As、Pb、W、Zn、Cu、Re、Ta、Hf、Ni、Co、Fe、Mn、Cr、V、Ti、Ca、 K、S、Bal.31个元素 3、PPM模式：Cd、Pb、Hg、Cr、As、Ba、Se、Sb、Au、Zn、Cu、Ni、Co、Fe、Mn、 V、Ti、Sc、K、Ca、S、Sn、Ag、Pd、Zr、Sr、Rb、W 28个元素 |
| 其他备注 | 214471265@qq.com |
